PRODUCTS


Luna 6415光器件分析儀采用光頻域反射技術(shù)(OFDR),通過探測(cè)背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數(shù)關(guān)系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀,得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)。Luna6415單臺(tái)儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長(zhǎng)度等所有測(cè)試,大大降低了測(cè)試成本,同時(shí)簡(jiǎn)化了測(cè)試流程。相比其它測(cè)試系統(tǒng),將大大增加測(cè)試產(chǎn)量。
回?fù)p(RL)和插損(IL)分析
反射和透射模式分析器件
光路長(zhǎng)度方向上的回?fù)p分布
RL和IL的光譜分析
探測(cè)和精準(zhǔn)定位反射事件和測(cè)量光路長(zhǎng)度(長(zhǎng)達(dá)100米)
優(yōu)化生產(chǎn)測(cè)試的速度、空間分辨率和精度:20μm采樣分辨率
RL空間分布測(cè)試
IL自動(dòng)測(cè)試和分析
延遲測(cè)量分辨率可達(dá)亞皮秒
PLCs、光波導(dǎo)器件、AWGs和ROADMs等測(cè)試
耦合器、光開關(guān)和分束器等測(cè)試